纳米晶Si在高压下的电学性质与金属化相变

鲍忠兴 何宇亮 王卫乡 柳翠霞 陈伟

鲍忠兴, 何宇亮, 王卫乡, 柳翠霞, 陈伟. 纳米晶Si在高压下的电学性质与金属化相变[J]. 高压物理学报, 1999, 13(2): 133-137 . doi: 10.11858/gywlxb.1999.02.009
引用本文: 鲍忠兴, 何宇亮, 王卫乡, 柳翠霞, 陈伟. 纳米晶Si在高压下的电学性质与金属化相变[J]. 高压物理学报, 1999, 13(2): 133-137 . doi: 10.11858/gywlxb.1999.02.009
BAO Zhong-Xing, HE Yu-Liang, WANG Wei-Xiang, LIU Cui-Xia, CHEN Wei. Electrical Properties and Metallic Transitions in Nanocrystals Si at High Pressure[J]. Chinese Journal of High Pressure Physics, 1999, 13(2): 133-137 . doi: 10.11858/gywlxb.1999.02.009
Citation: BAO Zhong-Xing, HE Yu-Liang, WANG Wei-Xiang, LIU Cui-Xia, CHEN Wei. Electrical Properties and Metallic Transitions in Nanocrystals Si at High Pressure[J]. Chinese Journal of High Pressure Physics, 1999, 13(2): 133-137 . doi: 10.11858/gywlxb.1999.02.009

纳米晶Si在高压下的电学性质与金属化相变

doi: 10.11858/gywlxb.1999.02.009
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    通讯作者:

    鲍忠兴

Electrical Properties and Metallic Transitions in Nanocrystals Si at High Pressure

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    Corresponding author: BAO Zhong-Xing
  • 摘要: 在金刚石压砧装置上,采用电阻和电容测量方法,研究了粒径为15~18 nm和80 nm的纳米晶Si在室温下、24 GPa内的电阻、电容与压力的关系。实验结果表明,它们分别在19~17 GPa和14 GPa左右发生了金属化相变。

     

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出版历程
  • 收稿日期:  1998-08-24
  • 修回日期:  1998-10-19
  • 发布日期:  1999-06-05

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