纳米离子导体在流体静压力下的复阻抗谱研究

苏昉 谢斌 赵明文 吴希俊

苏昉, 谢斌, 赵明文, 吴希俊. 纳米离子导体在流体静压力下的复阻抗谱研究[J]. 高压物理学报, 1995, 9(2): 81-88 . doi: 10.11858/gywlxb.1995.02.001
引用本文: 苏昉, 谢斌, 赵明文, 吴希俊. 纳米离子导体在流体静压力下的复阻抗谱研究[J]. 高压物理学报, 1995, 9(2): 81-88 . doi: 10.11858/gywlxb.1995.02.001
SU Fang, XIE Bin, ZHAO Ming-Wen, WU Xi-Jun. Research on Complex Impedance Spectra of Nanophase Ionic Conductor under Hydrostatic Pressure[J]. Chinese Journal of High Pressure Physics, 1995, 9(2): 81-88 . doi: 10.11858/gywlxb.1995.02.001
Citation: SU Fang, XIE Bin, ZHAO Ming-Wen, WU Xi-Jun. Research on Complex Impedance Spectra of Nanophase Ionic Conductor under Hydrostatic Pressure[J]. Chinese Journal of High Pressure Physics, 1995, 9(2): 81-88 . doi: 10.11858/gywlxb.1995.02.001

纳米离子导体在流体静压力下的复阻抗谱研究

doi: 10.11858/gywlxb.1995.02.001
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    通讯作者:

    苏昉

Research on Complex Impedance Spectra of Nanophase Ionic Conductor under Hydrostatic Pressure

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    Corresponding author: SU Fang
  • 摘要: 用惰性气体蒸发和真空原位加压方法制备了具有清洁界面的平均粒度16 nm的纳米固体CaF2,并在0.1~2 400 MPa范围不同的静水压下用100 kHz~100 Hz内70种频率,精确测量了纳米CaF2的复平面阻抗谱。分别给出纳米CaF2离子电导率和相对介电常数随流体静压力的变化规律。最后的讨论指出:离子迁移通遭受压后的变化(大于、等于或小于最佳值)是影响离子电导率-压力曲线的主要因素;界面层空间电荷极化是造成纳米CaF2相对介电常数较大的原因,由此界面效应可理解介电常数-压力曲线。

     

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出版历程
  • 收稿日期:  1994-01-31
  • 修回日期:  1994-04-04
  • 发布日期:  1995-06-05

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